TFT-LCD 屏幕缺陷自动检测设备
详细介绍:






  利用先进的机器视觉技术,针对TFT-LCD、OLED屏幕生产制程中产生的各类表面缺陷(点缺陷、线缺陷、 Mura 缺陷、污渍)进行自动检测、分类及定位,为客户提供高可靠性、快速的表面缺陷检测解决方案,实现自动化、高效化生产。设备采用双工位转盘式结构,体积小,最佳率配置;检测精度高,最小分辨缺陷精度可达到10um以下。



功能描述: 
设备可应用于中小屏幕TFT-LCD 3-7寸Cell、Open Cell、LCM模组各类表面缺陷进行电测,广泛应用于手机/平板/车载/VR/穿戴等消费电子产品。设备采用2900万高分辨、高信噪比主相机准确取像,利用伦科思公司独特的软件算法将图像背景与缺陷分离。设备总体采用模块化设计,便于组装、操作及维护。检测精度已经超过人眼的检测质量水平,并能够提供更高的检测效率。 


技术规格参数:

缺陷类型

点、线、mura、污渍

检测精度

1/3 SubPixel;灰阶差10Level

LCD尺寸

3’-7’

pattern

8个

检测速度

8s/pcs

重复定位精度

±0.025mm

缺陷识别精度

≥95%

漏检率

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错检率

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详情请下载
显示屏缺陷检测AOI.pdf

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